XRD測(cè)試主要測(cè)試什么性能？
　　首先我們要了解XRD是什么？XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，X射線衍射，通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。
　　XRD（X射線衍射）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如原子或離子及其基團(tuán)的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)最有效的方法。
　　XRD特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。晶態(tài)物質(zhì)組成元素或基團(tuán)如不相同或其結(jié)構(gòu)有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數(shù)目、角度位置、相對(duì)強(qiáng)度次序以至衍射峰的形狀上就顯現(xiàn)出差異。因此，通過(guò)樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對(duì)比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過(guò)對(duì)樣品衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)的分析計(jì)算，可以完成樣品物相組成的定量分析；
　　XRD還可以用來(lái)測(cè)定材料中晶粒的大小或其材料的織構(gòu)等等，應(yīng)用面十分普遍。目前XRD主要適用于無(wú)機(jī)物，對(duì)于有機(jī)物應(yīng)用還比較少。
　　目前，XRD可以主要測(cè)晶體結(jié)構(gòu)分析，物相定性分析，物相定量分析，晶粒大小分析，結(jié)晶度分析，宏觀應(yīng)力和微觀應(yīng)力分析，擇優(yōu)取向分析等等。
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